局部放電測(cè)試系統(tǒng)

簡(jiǎn)要描述：

局部放電測(cè)試系統(tǒng)在電場(chǎng)作用下，絕緣系統(tǒng)中只有部分區(qū)域發(fā)生放電，但尚未擊穿，（即在施加電壓的導(dǎo)體之間沒有擊穿）。這種現(xiàn)象稱之為局部放電。局部放電可能發(fā)生在導(dǎo)體邊上，也可能發(fā)生在絕緣體的表面上和內(nèi)部，發(fā)生在表面的稱為表面局部放電。發(fā)生在內(nèi)部的稱為內(nèi)部局部放電。

詳細(xì)介紹

局部放電的定義及產(chǎn)生原因

在電場(chǎng)作用下，絕緣系統(tǒng)中只有部分區(qū)域發(fā)生放電，但尚未擊穿，（即在施加電壓的導(dǎo)體之間沒有擊穿）。這種現(xiàn)象稱之為局部放電。局部放電可能發(fā)生在導(dǎo)體邊上，也可能發(fā)生在絕緣體的表面上和內(nèi)部，發(fā)生在表面的稱為表面局部放電。發(fā)生在內(nèi)部的稱為內(nèi)部局部放電。而對(duì)于被氣體包圍的導(dǎo)體附近發(fā)生的局部放電，稱之為電暈。由此總結(jié)一下局部放電的定義，指部分的橋接導(dǎo)體間絕緣的一種電氣放電，局部放電產(chǎn)生原因主要有以下幾種：

電場(chǎng)不均勻。
電介質(zhì)不均勻。
制造過程的氣泡或雜質(zhì)。zui經(jīng)常發(fā)生放電的原因是絕緣體內(nèi)部或表面存在氣泡；其次是有些設(shè)備的運(yùn)行過程中會(huì)發(fā)生熱脹冷縮,不同材料特別是導(dǎo)體與介質(zhì)的膨脹系數(shù)不同，也會(huì)逐漸出現(xiàn)裂縫；再有一些是在運(yùn)行過程中有機(jī)高分子的老化，分解出各種揮發(fā)物，在高場(chǎng)強(qiáng)的作用下，電荷不斷地由導(dǎo)體進(jìn)入介質(zhì)中，在注入點(diǎn)上就會(huì)使介質(zhì)氣化。

局部放電測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品用途

GDJF2006 局部放電檢測(cè)分析系統(tǒng)（局放儀）由三大模塊構(gòu)成：信號(hào)處理模塊，隔離模塊，采集處理模塊。根據(jù)系統(tǒng)連接圖，檢測(cè)阻抗將局部放電信號(hào)檢出并送到信號(hào)處理模塊，信號(hào)處理模塊完成將局部放電信號(hào)整理、放大、整形等功能后將局部放電信號(hào)送往隔離模塊，隔離模塊將計(jì)算機(jī)采集處理模塊和信號(hào)處理模塊隔開，防止它們之間互相干擾，zui后由采集處理模塊完成對(duì)局部放電信號(hào)的采集.處理.分析和顯示

采用高速.大容量數(shù)據(jù)采集卡，能進(jìn)行連續(xù)采集局放數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性好,準(zhǔn)確度高。
具有測(cè)試.分析(多參數(shù)分析.二維圖譜分析.三維圖譜分析).數(shù)據(jù)保存。報(bào)告生成及打印等功能
能同時(shí)顯示局部放電波形（橢圓。正鉉波。直線三種方式）。局放量和測(cè)試電壓。
在校正和測(cè)試過程中自動(dòng)調(diào)節(jié)增益而不需要人為干預(yù)，操做簡(jiǎn)便.
可適應(yīng)工頻（50Hz）三倍頻（150Hz）zui高至400Hz的電源。
可實(shí)現(xiàn)對(duì)外加電源頻率的自動(dòng)跟蹤.
開門開窗可任意設(shè)置zui小可至1度。
可單通道也可六個(gè)通道進(jìn)行測(cè)量.
體積小，重量輕。既適合于電力部門和制造廠車間等現(xiàn)場(chǎng)使用，也適合于科學(xué)研究試驗(yàn)。
靈敏度高，適用的試品范圍廣等優(yōu)點(diǎn)。

局部放電測(cè)試系統(tǒng)

可測(cè)試品的電容量范圍	6pf～250μf
檢測(cè)靈敏度	<0.02pc（電容50pf時(shí)）
放大器	3db低端頻率f1 10、20、30。50。80kHz任選，3db頻率fh 100 、200、300、400、500kHz任選
放大器	增益調(diào)節(jié)范圍>120db,檔間增益差20±1db。正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對(duì)稱性<1db
時(shí)間窗	窗寬1^о～360^о,窗位置可任意旋轉(zhuǎn)
試驗(yàn)電壓表	0～200kV,數(shù)字表顯示時(shí)誤差＜3%F.S
采集通道	4通道/卡
輸入阻抗	1MΩ
采集卡zui高采樣率	20MHz
AD分辨率12BIT。直流精確0.2%
每通道采樣長(zhǎng)度	8M
觸發(fā)方式	手動(dòng)、外觸發(fā)、內(nèi)觸發(fā)
采集卡帶寬	3MHz（-3DB）
重量	約15kg

與局放儀相關(guān)的三種典型的試品的試驗(yàn)線路：

（一）并聯(lián)法（二）串聯(lián)法（三）平衡法

標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)電路，又稱并聯(lián)法。適合于必須接地的試品。其缺點(diǎn)是高壓引線對(duì)地雜散電容并聯(lián)在 CX上，會(huì)降低測(cè)試靈敏度。
接法的串聯(lián)法，其要求試品低壓端對(duì)地浮置。其優(yōu)點(diǎn)是變壓器入口電容、高壓線對(duì)地雜散電容與耦合電容CK并聯(lián)，有利于提高試驗(yàn)靈敏度。缺點(diǎn)是試樣損壞時(shí)會(huì)損壞輸入單元。
平衡法試驗(yàn)電路：要求兩個(gè)試品相接近，至少電容量為同一數(shù)量級(jí)其優(yōu)點(diǎn)是外干擾強(qiáng)烈的情況下，可取得較好抑制干擾的效果，并可消除變壓器雜散電容的影響，而且可做大電容試驗(yàn)。缺點(diǎn)是須要兩個(gè)相似的試品，且當(dāng)產(chǎn)生放電時(shí)，需設(shè)法判別是哪個(gè)試品放電。

值得提出的是：由于現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)條件的限制（找到兩個(gè)相似的試品且要保證一個(gè)試品無放電不太容易），所以在現(xiàn)場(chǎng)平衡法比較難實(shí)現(xiàn)，另外，由于采用串聯(lián)法時(shí)，如果試品擊穿，將會(huì)對(duì)設(shè)備造成比較大的損害，所以出于對(duì)設(shè)備保護(hù)的想法，在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí)一般采用并聯(lián)法。

采用并聯(lián)法的整個(gè)系統(tǒng)的接線原理圖。

該系統(tǒng)采用脈沖電流法檢測(cè)高壓試品的局部放電量，由控制臺(tái)控制調(diào)壓器和變壓器在試品的高壓端產(chǎn)生測(cè)試局放所需的預(yù)加電壓和測(cè)試電壓，通過無局放藕合電容器和檢測(cè)阻抗將局部放電信號(hào)取出并送至局部放電檢測(cè)儀顯示并判斷和測(cè)量。系統(tǒng)中的高壓電阻為了防止在測(cè)試過程中試品擊穿而損壞其他設(shè)備，兩個(gè)電源濾波器是將電源的干擾和整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)分開，降低整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的背景干擾。

根據(jù)上述原理圖可以看出，局部放電測(cè)試的靈敏度和準(zhǔn)確度和整個(gè)系統(tǒng)密切相關(guān)，要想順利和準(zhǔn)確的進(jìn)行局部放電測(cè)試，就必須將整個(gè)系統(tǒng)考濾周到，包括系統(tǒng)的參數(shù)選取和連接方式。另外，在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí)，由于是驗(yàn)證性試驗(yàn)，高壓限流電阻可以省掉。

幾種典型試品的接線原理圖。

（1）電流互感器的局放測(cè)試接線原理圖

（2）電壓互感器的局放測(cè)試接線原理圖
A．工頻加壓方式接線原理圖

B．高頻加壓方式接線原理圖

為了防止電壓互感器在工頻電壓下產(chǎn)生大的勵(lì)磁電流而損壞，高壓電壓互感器一般采取自激勵(lì)的加壓方式。在電壓互感器的低壓側(cè)加一倍頻電源，在電壓互感器的高壓端感應(yīng)出高壓來進(jìn)行局部放電實(shí)驗(yàn)。這就是通常所說的三倍頻實(shí)驗(yàn)。其接線原理圖如下：